【專利類型】外觀設(shè)計【申請人】上海臺項工藝制品有限公司【申請人類型】企業(yè)【申請人地址】201101上海市閔行區(qū)星風(fēng)路518號【申請人地區(qū)】中國【申請人城市】上海市【申請人區(qū)縣】閔行區(qū)【申請?zhí)枴緾N200630035938.3【申請日】200
【摘要】 一種激光波長的光波導(dǎo)測量方法，屬于精密測量 技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明將激光入射到棱鏡上，并到達棱鏡的底面， 當(dāng)滿足耦合條件時，光進入由棱鏡、沉積在棱鏡上的金屬膜、 空氣隙、沉積在光學(xué)玻璃上的金屬薄膜構(gòu)成的泄漏型雙面金屬 包覆波導(dǎo)中，耦合效率對光波長的變化極為敏感，從棱鏡底面 反射的光強度對波長的變化也極為敏感。通過檢測反射光強度 的變化量，來檢測激光器輸出波長的變化。與現(xiàn)有技術(shù)相比， 本發(fā)明可以廣泛地應(yīng)用于密集波分復(fù)用系統(tǒng)中的波長分辨、激 光器輸出波長的漂移抑制。本發(fā)明可以實現(xiàn)高分辨率、快速的 實時檢測，并且檢測方法也十分簡單。 搜索馬 克 數(shù) 據(jù) 網(wǎng) 【專利類型】發(fā)明申請 【申請人】上海交通大學(xué) 【申請人類型】學(xué)校 【申請人地址】200240上海市閔行區(qū)東川路800號 【申請人地區(qū)】中國 【申請人城市】上海市 【申請人區(qū)縣】閔行區(qū) 【申請?zhí)枴緾N200610116623.0 【申請日】2006-09-28 【申請年份】2006 【公開公告號】CN1932458A 【公開公告日】2007-03-21 【公開公告年份】2007 【授權(quán)公告號】CN100523748C 【授權(quán)公告日】2009-08-05 【授權(quán)公告年份】2009.0 【發(fā)明人】馮耀軍; 曹莊琪; 沈啟舜; 陳麟 【主權(quán)項內(nèi)容】1、一種激光波長的平面波導(dǎo)檢測方法，其特征在于，將激光入射到棱鏡上， 當(dāng)滿足耦合條件時，光進入由棱鏡、沉積在棱鏡上的金屬膜、空氣隙、沉積在光 學(xué)玻璃上的金屬薄膜構(gòu)成的泄漏型雙面金屬包覆波導(dǎo)中，耦合效率對光波長的變 化極為敏感，從棱鏡底面反射的光對波長的變化也極為敏感，通過檢測反射光強 度的變化量，來檢測激光器輸出波長的變化。 【當(dāng)前權(quán)利人】上海交通大學(xué) 【當(dāng)前專利權(quán)人地址】上海市閔行區(qū)東川路800號 【統(tǒng)一社會信用代碼】1210000042500615X0
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